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PID測試潛在電勢誘導(dǎo)衰減，組件長期在高電壓工作，在蓋板玻璃、封裝材料、邊框之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池片表面，使得電池片表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子、短路電流、開路電壓降低，使組件性能低于設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)；PID測試目的是為驗證組件經(jīng)受高強度電壓性能變化的能力。銘電推出的PID測試系統(tǒng)滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC61215-2 MQT21，簡潔、高效、使用便捷靈活，極大地方便用戶進行PID的測試實驗。